1.半导体光敏电阻式光照度传感器的测量原理。 半导体光敏电阻式光照度传感器的敏感元件为半导体,此类光照度传感器一例如图10-39所示。硫化镉(Cds)半导体材料的电阻率随光照度增强而下降,将其连接到图10-39b所示的测量电路中,CdS在灯光照射下其电阻值改变时,就会输出与光照强度成正比的电压U。,控制电路或电控单元根据此电压信号进行与光照度相关的自动控制。
2.半导体光敏电阻式光照度传感器的检测方法。
半导体光敏电阻式传感器的可能故障有:内部电路有接触不良或断路、光敏元件失效等。故障检测主要是通过测量传感器的电阻,看其是否与规定值相符。具体检测方法如下。
(1)检测光线暗淡时的传感器电阻。
断开传感器的插接器,用布遮住传感器后,再用电阻表测量传感器两端子之间的电阻,应较大。如果电阻值较小或无穷大,需更换传感器。
(2)检测光线较强时的传感器电阻。
掀开光照度传感器上的布,再测量传感器两端子之间的电阻,其电阻值应减小。再用灯光照射光照度传感器,当灯光靠近传感器时,其电阻值应随之减小;当灯光移开传感器时其电阻值应随之增大。如果测量结果异常,更换光照度传感器。
